GaNやSiCといったワイドギャップ半導体を用いたスイッチング・デバイスの動作速度は上がる傾向にあり、それに伴い、放射されるノイズの周波数も広帯域化し、一般的なスペクトラム・アナライザでは捕捉・解析が難しくなりつつあります。このセッションでは、それら広帯域ノイズを測定する手法及びノイズ源の特定方法について、測定事例を交えてご説明します。

講師:テクトロニクス 鹿取 俊介

※セッション内容は若干変更される可能性がありますのでご了承下さい。※本セミナは、ユーザー企業のご担当者様を対象しております。個人の方または同業他社の方のお申込みはご参加をご遠慮いただく場合がございます。あらかじめご了承ください。※フリー・メール・アドレスでのご登録はご遠慮ください。

開催日時 2019年08月20日(火) 14:00~14:50
募集定員 75名(先着順)
申込受付期間 2019年07月11日(木) 10:00~ 2019年08月20日(火) 14:00

セミナーは終了しました